無接觸硅片 選購指南
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統
PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數據傳輸接口及基于Windows的控制軟件，用以進行在線及離線數據管理功能。 無接觸硅片綜合測試系統-產品特點 ■ 使用MTI Instruments獨有的推/拉電容探針技術 ■ 每套系統提供最多三個測量通道 ■ 可進行最大、最小、平均厚度測量和TTV測量 ■ 可進行翹曲度測量（需要3探頭） ■ 用......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
