第1章 x射線的性質(zhì)

1.1 x射線的本質(zhì)

1.2 x射線的產(chǎn)生及x射線譜

1.2.1 x射線的產(chǎn)生

1.2.2 x射線譜

1.3 x射線與物質(zhì)的相互作用

1.3.1 x射線的吸收

1.3.2 x射線的散射

1.4 x射線源及試驗方法

1.4.1 x射線源

1.4.2 x射線衍射的試驗方法

1.5 x射線的安全防護

金屬材料

產(chǎn)品范圍：普通及特種金屬零部件， 金屬模具，表面電鍍金屬制品，焊接類金屬制品

檢測項目：尺寸，公差，角度，錐度，圓度，平面度，粗糙度，硬度，化學成分，力學性能，金相分析，金屬沖擊，失效分析，

汽車內(nèi)飾件，外飾件，其他汽車零部件，帶表面涂層的各類產(chǎn)品，密封膠，密封圈，普通及特種橡膠，塑料制品，膠粘劑，膠帶

檢測項目：環(huán)境耐候性，光老化，紫外老化，臭氧老化，鹽霧，溫濕度循環(huán)，溫濕度沖擊，

物理機械性能：拉伸，壓縮，彎曲，剪切，撕裂，吸水，膨脹，硬度，密度，灰分，燃燒性能，

普通及特種表面涂層性能

膜厚，耐刮擦，耐磨，硬度，色牢度，色差，碎石沖擊，彎曲強度，附著力，柔韌性，粗糙度

普通及特種橡膠，塑料制品性能

回彈力，硫化特性，流變，粘合強度，門尼系數(shù)，摩擦系數(shù)，壓縮應力松弛，磨損體積，蠕變，疲勞壽命，

密封膠圈制品性能

尺寸，外觀質(zhì)量，低溫脆性，硬度變化，體積變化，接觸污染，耐油性，碳含量，

膠粘劑，膠帶性能

表干時間，剝落強度，固化速度，擠出性，適用期，下垂度，流動性，低溫柔性，潤滑性，密封性，彈性恢復率，初粘性，持粘性，污染性，不揮發(fā)物含量，體積電阻率，密封壓力。

半導體材料常規(guī)PL熒光測量服務機構(gòu)
半導體材料變溫PL熒光測量服務機構(gòu)
半導體材料變功率PL熒光測量服務機構(gòu)
薄膜變溫EL譜變溫IV曲線服務機構(gòu)
有機化合物熒光測量服務機構(gòu)
礦物染物熒光測量服務機構(gòu)
XPS分析服務機構(gòu)
TEM透射檢測中心
SEM掃描電鏡分析檢測中心
納米材料形貌表征服務機構(gòu)
材料表面粗糙度檢測中心
材料表面粘滯性表征檢測機構(gòu)
材料表面導電性表征測試機構(gòu)
材料表面磁性表征測試中心
納米壓印檢測中心
PSS形貌掃描測試儀
EDS能譜分析測試儀
NBD納米電子束衍射檢測機構(gòu)
CBD匯聚電子束衍射分析檢測中心
化學品成分分析
有機物成分分析
化學品成分分析
有機物成分分析
成分分析
GB5237鋁制門窗
鋁合金建筑型材成分分析
陽極氧化型材成分分析
電泳涂漆型材成分分
析
噴粉型材成分分析
噴漆型材成分分析
鈦合金成分鑒定
銅合金成分鑒定
銅渣分析檢測 電解銅
鹽霧測試
老化測試
濕熱測試
耐烘烤性
剝落試驗
C環(huán)測試
應力腐蝕測試
疲勞測試
摩擦試驗
CAL報告質(zhì)檢中心仲裁檢驗
CMA報告重金屬檢測
CMA報告金鈀銀等檢測
CMA報告有色院金屬檢測
CMA報告鋁合金建筑型材判定
CMA報告鋁合金成分檢測
CAL報告監(jiān)督抽查質(zhì)量評價
CMA報告礦物成分鑒定檢測
CMA報告外科植入物
CMA報告銅合金成分檢測
CMA報告鎂合金成分檢測
CMA報告稀土礦成分檢測
CMA報告鋼筋混凝土用鋼檢測
CMA報告貴金屬成分檢測
CMA報告危廢鑒定
CMA報告冶金金屬成分檢測
CMA報告鈦合金成分判定
CMA報告固廢金屬檢測
CMA報告鉭鈮成分檢測
CMA報告礦物放射性測試
CMA報告微量重金屬檢測
CMA報告選礦礦石的檢測
CMA報告精礦石的檢測
CMA報告稀土礦的檢測
氣體元素分析
差熱分析
密度測試
失效分析
零部件設備斷裂分析
腐蝕斑點分析
屬鍍層成分及厚度測試
晶體結(jié)構(gòu)分析
不銹鋼成分判定
應力分析
鹽霧試驗
濕熱試驗
超聲檢測儀
超聲相控陣檢測儀
移動式磁粉檢測儀
渦流檢測儀
渦流測厚儀
金屬磁記憶檢測儀
裂紋測深儀
著色滲透劑
便攜式超聲檢測儀
重金屬檢測中心
環(huán)保水質(zhì)檢測中心
礦產(chǎn)質(zhì)檢中心
金屬材料檢測中心
有色金屬檢測中心
金屬磁記憶檢測中心
稀土礦檢測中心
貴金屬檢測中心
鎳釋放檢測中心
著色滲透劑檢測機構(gòu)
裂紋測深儀提供服務
再生資源檢測機構(gòu)
鋁合金檢測機構(gòu)
便攜式超聲檢測儀服務
陽極氧化型材檢測機構(gòu)
鋼筋混凝土用鋼檢測機構(gòu)
鹽霧測試中心
金屬成分分析機構(gòu)
礦物及再生資源檢測
差熱分析機構(gòu)
有色院金屬檢測機構(gòu)
礦物放射性測試機構(gòu)
晶體機構(gòu)分析中心
表面磁性表征有色金屬檢測機構(gòu)
SEM掃描電鏡分析測試中心
半導體材料變功率PL熒光測量
納米材料外貌表征檢驗

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